产品描述

外观尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm 温度适应范围15℃至30℃ 样品室尺寸500(W)×350(D)×140(H) mm 元素分析范围硫(S)到铀(U) 重量90kg

x射线荧光镀层测厚仪可以检测镀金层、镀镍层、镀锌层、镀铬层、镀银层、镀铜层、镀锡层的厚度。
x射线荧光镀层测厚仪的原理:X射线或粒子射线经物质照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析
x射线荧光镀层测厚仪的应用领域:
1、,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
2、金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
3、贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
全新镀层厚度检测仪价格
昆山市玉山镇仪器商行将以“行业技术”的姿态,不断探究世界分析领域的。目前公司已于2011年成功在深圳创业板上市,代码300165。
测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现对板带厚度的自动厚度控制(AGC)。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种,其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时间。
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在厚度一定的情况下,X射线的能量值为常量。当安全快门打开,X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过,被测钢板将一部分能量吸收,剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收,探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度,则所吸收的X射线量也将改变,这将使探头所接收的X射线量发生变化,检测信号也随之发生相应的变化。
射线测厚仪按射线源的种类可分为X射线测厚仪与核辐射线测厚仪两类,而后者又可多r射线测厚仪与 射线测厚仪。按射线与被测板材的作用方式,又可分为穿透式和反射式。
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x射线镀层测厚仪的原理:若一个电子由轨道游离,则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置,以达到稳定的状态,此种不同能阶转换的过程可释放出能量,即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同,所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。
原子的特性由原子序来决定,亦即质子的数目或轨道中电子的数目,即特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多,而不同的原子序也会造成不同的能量差。 
特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后,即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。 
使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
在有些情况,如:印刷线路板上的IC导线,接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言,测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求: 
1.不破坏的测量下具高精密度。 
2.小的测定面积。 
3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。 
4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。 
5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。 
而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量。
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