产品描述

产品规格600包装说明包箱

x荧光测厚仪的原理：

若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。 
 
原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。 
特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。 
使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。 
 
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求： 
1.不破坏的测量下具高精密度。 
2.小的测定面积。 
3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。 
4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。 
5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。 

而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量。

EDX1800BS


性能优势

下照式：可满足各种形状样品的测试需求

准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用

移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点

高分辨率探测器：提高分析的准确性

新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，实现高的测试效率

 

技术参数

元素分析范围：磷（P）～铀（U）

检出限：1ppm

分析含量：ppm～99.99％

任意多个可选择的分析和识别模型

相互立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

环境温度：15℃～30℃

电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

能量分辨率：144±5eV

样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm

仪器尺寸：550mm×410mm×320mm

仪器重量：45kg

 

仪器配置

移动样品平台

信噪比增强器

SDD探测器

信号检测电子电路

高低压电源

大功率X光管

计算机及喷墨打印机


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