产品描述
使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作人性化、方便。
性能特点
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品
脉冲处理器,数据处理快速准确
手动开关样品腔,操作安全方便
三重安全保护模式
整体钢架结构、外型高贵时尚
FP软件,无标准样品时亦可测量
技术指标
型号:THICK600
分析范围: Ti-U,可分析高3层15个元素
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
工作电压:AC 110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)
测量时间:40秒(可根据实际情况调整)
探测器分辨率:(160±5)eV
光管高压:5-50kV
管流:50μA-1000μA
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:30%-70%
准直器:配置不同直径准直孔,小孔径φ0.2mm
仪器尺寸:610(L) x 355 (W) x 380(H) mm
仪器重量:30kg
昆山市玉山镇仪器商行是生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列仪器是测合金元素成分检测仪,专门研发测试合金成分分析.测试过程校准,保证测量精度,内置多条曲线,可满足多种元素的分析需要。 X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行成分分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
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