产品描述

产品规格EDX123包装说明包箱

X射线荧光光谱仪的优点:
 
1) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。
2) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在软X射线范围内,这种效应为显着。波长变化用于化学位的测定 。
3) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
4) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
5) 分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。
6) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

产品说明、技术参数及配置

能量色散X荧光光谱仪EDX 3600继承了仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保五大特点,采用25mm2大面积铍窗探测器,可准确无误地分析出、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。

性能特点

三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
高信噪比的电子线路单元
全元素测试**X荧光分析软件
与传统仪器相比,新增加的抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的版图
采用世界上好的SDD硅漂移探测器,分辨率低至139ev,好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器,直径小达0.2mm,轻松实现精小部位的精确测试
精选**优质组件组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时,必须使用真空泵设备把空气抽出,使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵(选配)
限真空:6×10-2 帕转速:1400 转/分 抽率:1 升/秒 功率:0.25 千瓦

技术指标

测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
测量对象状态:粉末、固体、液体
同时分析元素:30种元素同时分析
元素含量分析范围:1ppm-99.99%
能量分辨率为:140±5ev
测量时间:60s-200s(可调)
制冷方式:电制冷,*任何耗材
环境温度:10℃-30℃
环境湿度:35%-70%
输入电压:AC 110V/220V
管压:5kV-50kV
管流:50μA-1000μA
样品腔尺寸:334×500×80mm
外观尺寸:670×533×855 mm
重量:80kg

标准配置

美国Amptek进口SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、高效X光管
计算机、打印机、真空泵(选配)、稳压电源(选配)
软件:贵金属分析软件(标配)、镀层分析软件(选配)、有害元素分析软件(选配)

应用领域

、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。
分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等

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