电镀层测厚仪，镀层厚度分析仪

1、上照式 
2、测试组件可升降 
3、移动平台
4、小准直器 
5、高分辨率探头
6、可视化操作 
7、自动定位高度
8、自动寻找光斑 
9、鼠标定位测试点
10、良好的射线屏蔽
11、大样品腔设计
12、测试口安全防护

测厚仪技术指标

元素分析范围从钠(Na)到铀(U)。 
一次可同时分析多24个元素。
分析检出限可达1ppm。
分析含量一般为1ppm到99.9％。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
多次测量重复性可达0.1％。
长期工作稳定性为0.1％。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机