产品描述


等离子体发射光谱分析法是光谱分析技术中,以等离子体炬作为激发光源的一种发射光谱分析技术。其中以电感耦合等离子体(inductively coupled plasma,简称为ICP)作为激发光源的发射光谱分析方法,简称为ICP-OES,是光谱分析中研究为深入和应用为广泛、有效的分析技术之一。

电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES的分析原理:

电感耦合等离子体焰矩温度可达6000~8000K,当将试样由进样器引入雾化器,并被氩载气带入焰矩时,则试样中组分被原子化、电离、激发,以光的形式发射出能量。不同元素的原子在激发或电离时,发射不同波长的特征光谱,故根据特征光的波长可进行定性分析;元素的含量不同时,发射特征光的强弱也不同,据此可进行定量分析,其定量关系可用下式表示:

I=aC^b

式中:I—发射特征谱线的强度;

C—被测元素的浓度;

a—与试样组成、形态及测定条件等有关的系数;

b—自吸系数,b≤1

电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES的应用领域:


产品说明、技术参数及配置

1、主要配置及附件:
以光电倍增管PMT检测器为基础的单道扫描电感耦合等离子体发射光谱仪,高频发生器,自动调谐,提供具有中英文操作界面的软件;
**自动温控循环冷却水系统;
氩气导管;
冷却水管;
高灵敏度进样系统(高效进口雾化器加双筒型雾化室)。
2、主要技术参数:
台式,等离子体垂直观测系统。
等离子体火焰可进行二维调整(由计算机控制),并利用“仪器诊断”功能,实时观察调整结果。
精密度 :优于国家检定规程A级标准
稳定性 :优于国家检定规程A级标准
分辨率 :在Mn257.610nm处,峰半高宽为≤0.008nm(3600线光栅)。
≤0.015 nm(2400线光栅)。
所有元素满足国标A级标准,部分元素如Ba检出限远低于国家A级标准
谱线灵活性:可对分析元素的谱线进行定性、半定量和定量分析。拥有几千条谱线,可以根据需要与爱好选择适当的谱线,避开可能存在的干扰,为您提供多的选择,合理的推荐,让测试变得加与准确。


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