台式镀层厚度检测仪，X射线电镀层厚度检测仪

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
X射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

探险者EXPLORER手持式X荧光分析仪是仪器结合10年手持XRF技术研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，具有自主知识产权的全新一代手持XRF产品。
EXPLORER 5000T手持式XRF镀层厚度分析仪是先使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式手持镀层测厚分析仪。EXPLORER 5000T可对大面积镀层产品进行膜厚分析，仪器不仅体积小、重量轻，可随身携带进行测量；而且性能，堪比台式机。
行业应用
五金建材、水暖卫浴、电力电气等
性能优势
1、便捷的操作
重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有仪器套，易抓握，使用方便。
270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清晰显示。
密封式一体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。
*制备样品，可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试，也能使用测试座对样品进行较长时间的测试。
2、的性能
无损快速检测，对准即测，数秒即可报结果。性能堪比台式机，检测效果又快又准。
**近光路设计，提升计数率达到5倍以上，大大缩短测试时间，完全可以满足手持检测需求。
3、强劲的电力
选配**大27000mAh锂电池，续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器，保证电力供应。
内置记忆电池，换电池不断电。
4、的配置
微型光管、SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块技术的引入，使其具有台式相近的测试精度。
采用**高主频及大内存，**大存储空间，可海量存储数据。全新的数字多道技术，保证每秒有效采谱计数可达500kcps。
准直滤波系统，其组合达到限12组，满足客户的不同条件下的检测需求。
高清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测量加精准。
5、安全的防护
智能三色预警系统：LED三色长灯带设计，360度无死角显示。通电开机时绿灯亮，测试红灯闪烁，设备故障灯闪烁，仪器状态，一目了然。
三重安全防护功能：
a: 自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏。
b: 采用加厚防护测试壁，有效防止散射。
c: 配送防护安全罩，防周边轻基体散射。
安全联动锁装置，当软件无法控制关闭，轻轻一按，时间保护您的安全，守护后关卡。
6、智能的软件
EXPLORER5000T手持式镀层测厚分析仪配有针对镀层厚度分析的应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否**标、操作简易、可实现边测边打功能等特点。
全新的智能软件，一键智能操作，采用双模设计（用户模式和模式）。用户模式选择相应曲线一键检测镀层厚度；模式可进行元素编辑，曲线标定等深入分析操作。

镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。
镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍，此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度高，NT230涂层测厚仪。
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵，测量精度也不高。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。
5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些场合。

五金镀层测厚仪测量值精度的影响因素
    1．影响因素的有关说明
    a 基体金属磁性质
    磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
    b 基体金属电性质
    基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
    c 基体金属厚度
    每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
    d 边缘效应
    本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
    e 曲率
    试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
    f 试件的变形
    测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
    g 表面粗糙度
    基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度，影响。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
    g 磁场
    周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
    h 附着物质
    本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
    i 测头压力
    测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
    j 测头的取向
    测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
    2．使用仪器时应当遵守的规定
    a 基体金属特性
    对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
    对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
    b 基体金属厚度
    检查基体金属厚度是否**过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
    c 边缘效应
    不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
    d 曲率
    不应在试件的弯曲表面上测量。
    e 读数次数
    通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时应如此。
    f 表面清洁度
    测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质
http://123456e.cn.b2b168.com