产品描述
镀层厚度分析仪的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,X射线镀层厚度分析仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且**,是工业和科研使用zui广泛的测厚仪器。
针对EDX 1800在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款EDX 1800BS。
应用新一代的高压电源和X光管,提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
应用领域
固废快速检测
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于固废行业、贵金属加工和首饰加工行业;银行、首饰销售和检测机构;电镀行业
性能优势
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,实现高的测试效率
技术参数
元素分析范围:磷(P)~铀(U)
检出限:1ppm
分析含量:ppm~99.99%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
环境温度:15℃~30℃
电源:交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:144±5eV
样品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
仪器尺寸:550mm×410mm×320mm
仪器重量:45kg
仪器配置
移动样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
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