产品规格ROHS包装说明箱包产品名称ROHS分析仪
品牌仪器
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。
波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行定性和定量分析。该仪器产生于50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定，受到观注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。
随着科学技术的进步，在60年代初发明了半导体探测器以后，对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪(ED-XRF)，用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线(荧光)直接进入半导体探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析。
EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。 
性能特点 高效薄窗X光管，指标达到水平 新的数字多道技术，让测试快，计数率达到100000CPS，精度高。在合金检测中效果好 SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性 高信噪比的电子线路单元 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制 内置高清晰摄像头 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然 技术参数 产品型号：EDX 4500H 产品名称：X荧光光谱仪 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U） 元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 同时分析元素：一次性可测几十种元素 测量时间：30秒-200秒 探测器能量分辨率为：145±5eV 管压：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA 测量对象状态：粉末、固体、液体 输入电压：AC 110V/220V 环境温度：15℃-30℃ 环境湿度：35%-70% 样品腔体积：320mm×100mm 外形尺寸：660mm×510mm×350mm 重量：65Kg 标准配置 高效薄窗X光管 SDD硅漂移探测器 数字多道技术 光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构 90mm×70mm的状态显示液晶屏 真空泵 应用领域 合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）http://123456e.cn.b2b168.com
