外观尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm
温度适应范围15℃至30℃
样品室尺寸500(W)×350(D)×140(H) mm
元素分析范围硫(S)到铀(U)
重量90kg
x射线荧光镀层测厚仪可以检测镀金层、镀镍层、镀锌层、镀铬层、镀银层、镀铜层、镀锡层的厚度。
x射线荧光镀层测厚仪的原理:X射线或粒子射线经物质照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析
x射线荧光镀层测厚仪的应用领域:
1、,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
2、金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
3、贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器,测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的*手段。
镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍,此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度高,NT230涂层测厚仪。
3.声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵,测量精度也不高。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。
5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些场合。

X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线源辐射强度的大小,与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度,为了确定其所需的X射线能量值,可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一厚度时,系统将设定X射线的能量值,使检测能够顺利完成。

电镀膜厚测试仪是一款用于镀层行业的厚度检测仪,在使用中可实现全自动软件操作,方便性高,可控性强,具有多点测试属性,和普通的测厚仪相比较,这种电镀式采用的是软件控制,在所测数据上误差率会低。
电镀膜厚测试仪的影响因素有哪些?
1、基体金属磁性量
磁性法测厚受基体金属磁性变革的影响(正在实际应用中,低碳钢磁性的变革能够认为是细微的),为了制止热处置和冷加工因素的影响,应使用取试件基体金属具有不量的尺度片对仪器停止校准;亦可用待涂覆试件停止校准。
2、基体金属电性量
基体金属的电导率对丈量有影响,而基体金属的电导率取其质料成分及热处置办法有关。使用取试件基体金属具有不量的尺度片对仪器停止校准。
3、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于那个厚度,丈量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
4、边沿效应
本仪器对试件外表外形的陡变敏感。因而正在靠近试件边沿或内转角处停止丈量是不成靠的。
5、曲率
试件的曲率对丈量有影响。那种影响总是跟着曲率半径的减少明显地删大。因而,正在弯曲试件的外表上丈量是不成靠的。
6、试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形,因而正在那些试件上测出可靠的数据。
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