产品描述

外观尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm 温度适应范围15℃至30℃ 样品室尺寸500(W)×350(D)×140(H) mm 元素分析范围硫(S)到铀(U) 重量90kg

公司被授予 “国家火炬计划”,“江苏省”,“江苏省软件企业”,“江苏省科技企业”,“江苏省规划布局内软件企业”,“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有的技术水平,X荧光光谱仪系列产品被认定为“国家新产品”和“江苏省**产品”。产品品种齐全,为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供解决方案。
仪器将以“行业技术”的姿态,不断探究世界分析领域的。为客户提供加的产品和加满意的服务,同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供为完善的行业整体解决方案,从而推动中国经济快速**化。
深圳镀层厚度检测仪
X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
   X射线源辐射强度的大小,与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度,为了确定其所需的X射线能量值,可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一厚度时,系统将设定X射线的能量值,使检测能够顺利完成。
深圳镀层厚度检测仪
镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:
  1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢\铁\银\镍.此种方法测量精度高
  2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低
  3.声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵\测量精度也不高.
  4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦
  5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些场合.
镀层测厚仪覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。镀层测厚仪这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
  X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
  镀层测厚仪随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且**,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
  采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。
深圳镀层厚度检测仪
X荧光测厚仪又称X射线荧光测厚仪,主要用于精密测量金属电镀层的厚度。
X荧光镀层测厚仪工作原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。
X荧光测厚仪的优势特点:
*高分辨率、清摄像头、便捷操作、快检测速度、人性化界面
*易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的型功能
*机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室
*按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的结果
*使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
*用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心
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